自动化系统测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211116747.4

申请日：

2022-09-14

公开(公告)号：

CN115328808A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

王华民

申请人：

申请人地址：

200000 上海市自由贸易试验区陆家嘴环路1333号18层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F1622 G06F162455 G06F162457

代理机构：

深圳市明日今典知识产权代理事务所(普通合伙) 44343

代理人：

王杰辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	公开	公开
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220914

共 50 条

[1]

自动化内存测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

鞠凯 ;

尹青建 .

中国专利 :CN115344438A ,2022-11-15

[2]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

李凤兰 ;

张戴克 ;

陈强 ;

王涵 .

中国专利 :CN118606160A ,2024-09-06

[3]

软件自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

李阳 .

中国专利 :CN112579452A ,2021-03-30

[4]

自动化测试监控的方法、装置、设备及存储介质 [P].

谢连天 .

中国专利 :CN111858352B ,2024-04-05

[5]

自动化测试监控的方法、装置、设备及存储介质 [P].

谢连天 .

中国专利 :CN111858352A ,2020-10-30

[6]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

楚琳琳 .

中国专利 :CN117493170A ,2024-02-02

[7]

私有域名自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

冯嘉美 .

中国专利 :CN112054941A ,2020-12-08

[8]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵宇 ;

黄永龙 ;

李阳 .

中国专利 :CN120909915A ,2025-11-07

[9]

一种自动化测试系统、方法、设备及存储介质 [P].

张民 .

中国专利 :CN117591401A ,2024-02-23

[10]

插件自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

李勇 ;

徐潇 .

中国专利 :CN118152275A ,2024-06-07

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