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内存条老化测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121760745.X
申请日：
2021-07-30
公开(公告)号：
CN215376935U
公开(公告)日：
2021-12-31
发明(设计)人：
何润
丁家强
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中区胥口镇浦庄大道4088号3号厂房一楼
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
代理人：
杨慧红
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-12-31 | 授权 | 授权 |