用于物理不可克隆功能的嵌入式测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680047612.3

申请日：

2016-07-01

公开(公告)号：

CN108028757A

公开(公告)日：

2018-05-11

发明(设计)人：

R·达法利 J-L·当热 S·吉耶 F·洛扎克

申请人：

申请人地址：

法国塞松塞维涅

IPC主分类号：

H04L932

IPC分类号：

H04L908 G09C100

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

刘瑜;王英

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-11	公开	公开
2018-06-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 9/32 申请日:20160701
2021-01-12	授权	授权

共 50 条

[1]

用于及具有物理不可克隆功能的集成电路 [P].

博赫丹·卡苹斯奇 ;

金大玄 ;

卢美贞 ;

朴商旭 ;

李容基 ;

崔允赫 .

中国专利 :CN109428724B ,2019-03-05

[2]

物理不可克隆功能 [P].

M·沃蒂莱宁 .

中国专利 :CN106576045A ,2017-04-19

[3]

物理不可克隆功能的自测试 [P].

R.法尔克 .

中国专利 :CN104662554A ,2015-05-27

[4]

用于测试物理不可克隆功能的设备和方法 [P].

S·吉耶 ;

J-L·当热 ;

P·阮 .

中国专利 :CN107276761A ,2017-10-20

[5]

利用物理不可克隆功能的集成电路供应 [P].

P·D·杜卡尔默 ;

郑和云 .

中国专利 :CN104657630A ,2015-05-27

[6]

物理不可克隆功能器件和集成电路 [P].

F·拉罗萨 .

中国专利 :CN210983408U ,2020-07-10

[7]

物理不可克隆功能器件和集成电路 [P].

F·拉罗萨 ;

M·曼泰利 ;

S·尼埃尔 ;

A·雷尼耶 .

中国专利 :CN210955078U ,2020-07-07

[8]

用于物理不可克隆功能（PUF）电路的误差校正电路 [P].

姚晓旭 .

中国专利 :CN109428721A ,2019-03-05

[9]

合成的物理不可克隆功能 [P].

P·阮 ;

R·阮 ;

Y·苏维西 ;

S·吉耶 ;

J-L·当热 ;

A·法孔 .

中国专利 :CN110462713A ,2019-11-15

[10]

物理不可克隆的功能器件 [P].

F·拉罗萨 ;

M·比尔詹 .

法国专利 :CN115622704B ,2025-11-28

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