一种岩石结构面粗糙度系数精细化表征方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910162055.5
申请日
2019-03-04
公开(公告)号
CN109859301A
公开(公告)日
2019-06-07
发明(设计)人
吕庆 吴禄祥 蔡学桁 郑俊
申请人
申请人地址
310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
IPC主分类号
G06T1510
IPC分类号
G06T1508 G06T1920
代理机构
杭州中成专利事务所有限公司 33212
代理人
周世骏
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]
结构面粗糙度系数尺寸效应试样表征单元确定方法 [P]. 
雍睿 ;
杜时贵 ;
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[2]
一种岩石结构面粗糙度智能提取方法及系统 [P]. 
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严兆彬 ;
封志兵 ;
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刘国奇 ;
张鑫 ;
杨东光 ;
张树明 ;
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[3]
一种岩石节理面粗糙度系数的分级表征方法、设备及介质 [P]. 
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吴孟龙 ;
元宙昊 ;
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王其虎 ;
罗斌玉 ;
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姜维 .
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[4]
岩体结构面粗糙度系数简易测量方法 [P]. 
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[5]
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陆佳佳 ;
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严洪燚 ;
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[6]
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[7]
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杜时贵 ;
施烨辉 ;
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[8]
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[9]
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宋磊博 ;
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[10]
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