电子元件自动测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920889209.6

申请日：

2019-06-13

公开(公告)号：

CN210270034U

公开(公告)日：

2020-04-07

发明(设计)人：

刘丹覃志胜陈永寿

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区玉塘街道长圳社区长兴科技工业园46B栋3楼

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元件自动测试设备 [P].

覃志胜 ;

陈永寿 .

中国专利 :CN212944180U ,2021-04-13

[2]

电子元件自动测试设备 [P].

覃志胜 ;

陈永寿 .

中国专利 :CN212965233U ,2021-04-13

[3]

一种电子元件自动测试机 [P].

蒋平 ;

杨斌 .

中国专利 :CN222784550U ,2025-04-22

[4]

一种成品电子元件自动测试设备 [P].

曹原 ;

陈东 .

中国专利 :CN118671392A ,2024-09-20

[5]

电子元件自动加工设备 [P].

杨建平 .

中国专利 :CN203470740U ,2014-03-12

[6]

一种全自动电子元件测试设备 [P].

刘占飞 ;

翟保利 ;

谢亮华 ;

田东 ;

王海勇 ;

刘坚辉 ;

袁建球 .

中国专利 :CN211134629U ,2020-07-31

[7]

电子元件测试设备 [P].

林芳旭 ;

卢昱呈 ;

吴振维 ;

林冠龙 .

中国专利 :CN222174978U ,2024-12-17

[8]

电子元件测试设备 [P].

尤信超 ;

陈永宏 .

中国专利 :CN106290991A ,2017-01-04

[9]

电子元件测试设备 [P].

梁晋玮 .

中国专利 :CN111044839B ,2020-04-21

[10]

电子元件测试设备 [P].

冯官星 ;

王国强 ;

刘占飞 .

中国专利 :CN117825825A ,2024-04-05

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