粒子测定装置及粒子测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980015326.2

申请日：

2019-01-25

公开(公告)号：

CN111771117A

公开(公告)日：

2020-10-13

发明(设计)人：

田端诚一郎

申请人：

申请人地址：

日本兵库县神户市中央区胁浜海岸通1丁目5番1号

IPC主分类号：

G01N1514

IPC分类号：

G01N33543

代理机构：

北京市安伦律师事务所 11339

代理人：

杨永波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/14 申请日:20190125
2020-10-13	公开	公开

共 50 条

[1]

粒子测定装置以及粒子测定方法 [P].

伊藤信明 .

中国专利 :CN102834689B ,2012-12-19

[2]

粒子测定装置 [P].

山田和宏 ;

山本毅 .

中国专利 :CN104075979B ,2014-10-01

[3]

粒子的测定装置及粒子的测定方法 [P].

中村崇市郎 ;

滨田健一 .

日本专利 :CN117501094A ,2024-02-02

[4]

粒子尺寸测定装置及测定方法 [P].

三泽智也 .

中国专利 :CN111795910A ,2020-10-20

[5]

粒子量测定装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田洼健二 .

中国专利 :CN105527202A ,2016-04-27

[6]

粒子分离装置以及粒子测定装置 [P].

矢内章博 ;

高田荣和 ;

大岩浩二 .

中国专利 :CN204396329U ,2015-06-17

[7]

粒子群特性测定装置、粒子群特性测定方法、粒子群特性测定装置用程序、粒径分布测定装置和粒径分布测定方法 [P].

立脇康弘 ;

藤原真悟 .

中国专利 :CN114556080A ,2022-05-27

[8]

粒子测定装置、校正方法以及测定装置 [P].

加藤晴久 ;

松浦有祐 ;

中村文子 ;

近藤郁 ;

田渕拓哉 ;

冨田宽 ;

林秀和 .

中国专利 :CN112840199A ,2021-05-25

[9]

粒子测定装置、校正方法 [P].

加藤晴久 ;

松浦有祐 ;

中村文子 ;

近藤郁 ;

田渕拓哉 ;

冨田宽 ;

林秀和 .

日本专利 :CN112840199B ,2024-06-14

[10]

凝胶粒子测定装置 [P].

小幡彻 .

中国专利 :CN102869976B ,2013-01-09

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