考虑两阶段自适应Wiener过程的退化设备剩余寿命预测方法

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专利类型
发明
申请号
CN202110384609.3
申请日
2021-04-09
公开(公告)号
CN113033015A
公开(公告)日
2021-06-25
发明(设计)人
郑建飞 胡昌华 董青 司小胜 张琪 裴洪
申请人
申请人地址
710025 陕西省西安市灞桥区同心路2号
IPC主分类号
G06F3020
IPC分类号
G06F11108 G06F11902 G06F11904
代理机构
西安正华恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 61271
代理人
陈选中
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
考虑两阶段自适应Wiener过程的退化设备剩余寿命预测方法 [P]. 
郑建飞 ;
胡昌华 ;
董青 ;
司小胜 ;
张琪 ;
裴洪 .
中国专利 :CN113033015B ,2024-05-14
[2]
两阶段退化产品的剩余寿命预测方法 [P]. 
林景栋 ;
陈敏 ;
林正 ;
王静静 .
中国专利 :CN111046564B ,2024-04-05
[3]
两阶段退化产品的剩余寿命预测方法 [P]. 
林景栋 ;
陈敏 ;
林正 ;
王静静 .
中国专利 :CN111046564A ,2020-04-21
[4]
一种自适应两阶段高斯过程回归的剩余寿命预测方法及系统 [P]. 
樊薇 ;
郑心雨 ;
陈超 ;
高晓旭 ;
蒋帆 ;
徐弓岳 .
中国专利 :CN117609957A ,2024-02-27
[5]
一种两阶段退化产品自适应变点识别与剩余寿命预测方法 [P]. 
李军星 ;
樊嘉辉 .
中国专利 :CN118734579A ,2024-10-01
[6]
一种两阶段退化设备的剩余寿命预测方法及系统 [P]. 
胡昌华 ;
幸元兴 ;
张建勋 ;
杜党波 ;
司小胜 ;
李天梅 .
中国专利 :CN113656965A ,2021-11-16
[7]
一种两阶段退化设备的剩余寿命预测方法及系统 [P]. 
胡昌华 ;
幸元兴 ;
张建勋 ;
杜党波 ;
司小胜 ;
李天梅 .
中国专利 :CN113656965B ,2025-04-11
[8]
一种基于两阶段维纳过程的退化设备寿命预测方法 [P]. 
王友清 ;
刘云奇 ;
马鑫 ;
脱建勇 ;
梁丽 ;
郭继鹏 ;
史雨堃 ;
陈龙 .
中国专利 :CN120542232A ,2025-08-26
[9]
一种基于两阶段随机退化建模的剩余寿命预测方法 [P]. 
周东华 ;
张峻峰 ;
何潇 ;
张建勋 ;
张海峰 ;
卢晓 .
中国专利 :CN107480440B ,2017-12-15
[10]
基于Wiener过程的两型集成电路剩余寿命预测方法 [P]. 
潘庆国 ;
周璐 ;
项卓 .
中国专利 :CN118607421A ,2024-09-06