四极杆系统及用于质谱分析的离子阱

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610170694.9

申请日：

2006-12-29

公开(公告)号：

CN101211742B

公开(公告)日：

2008-07-02

发明(设计)人：

方向丁传凡

申请人：

申请人地址：

100013 北京市朝阳区北三环东路18号中国计量科学研究院

IPC主分类号：

H01J4942

IPC分类号：

H01J4902 H01J4910

代理机构：

北京元本知识产权代理事务所 11308

代理人：

叶凡

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101647544513 IPC(主分类):H01J 49/42 专利号:ZL2006101706949 申请日:20061229 授权公告日:20110413 终止日期:20141229
2010-02-10	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-04-13	授权	授权
2008-07-02	公开	公开

共 50 条

[1]

四极杆质谱分析装置 [P].

下村学 .

中国专利 :CN110720133B ,2020-01-21

[2]

四极杆滤质器以及四极杆质谱分析装置 [P].

上田浩子 ;

宫内真二 ;

上野良弘 .

中国专利 :CN108352293B ,2018-07-31

[3]

离子阱质谱分析装置及使用该装置的质谱分析方法 [P].

关谷祯规 ;

高桥秀典 .

中国专利 :CN108474762A ,2018-08-31

[4]

用于高通量电荷检测质谱分析的离子阱阵列 [P].

M·F·贾罗德 ;

D·博塔曼科 .

中国专利 :CN112703579A ,2021-04-23

[5]

用于高通量电荷检测质谱分析的离子阱阵列 [P].

M·F·贾罗德 ;

D·博塔曼科 .

美国专利 :CN112703579B ,2025-01-28

[6]

用于单粒子质谱分析的轨道阱 [P].

M·F·贾罗德 ;

A·R·托德 .

中国专利 :CN113574632A ,2021-10-29

[7]

用于单粒子质谱分析的轨道阱 [P].

M·F·贾罗德 ;

A·R·托德 .

美国专利 :CN113574632B ,2024-07-30

[8]

用于质谱分析的离子漏斗 [P].

亚历山大·莫迪凯 ;

马克·H·韦尔利赫 .

中国专利 :CN102103969A ,2011-06-22

[9]

用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统及方法 [P].

何洋 ;

肖育 ;

徐骏 ;

丁正知 ;

齐晓军 .

中国专利 :CN109103065B ,2018-12-28

[10]

离子阱用基座、离子阱及双曲面四极杆的加工方法 [P].

钟蠡 ;

吴定柱 ;

刘兴宝 ;

雷天才 ;

蒋家东 ;

潘晓斌 .

中国专利 :CN109300770A ,2019-02-01

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