试验装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202080031306.7
申请日
2020-12-15
公开(公告)号
CN113748496A
公开(公告)日
2021-12-03
发明(设计)人
渡边直良 佐藤茂行 内海良一
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
H01L2722
代理机构
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291
代理人
黄志华;洪秀川
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
试验装置 [P]. 
渡边直良 ;
佐藤茂行 ;
内海良一 .
中国专利 :CN113748350A ,2021-12-03
[2]
试验装置 [P]. 
渡边直良 ;
佐藤茂行 ;
内海良一 .
日本专利 :CN113748350B ,2024-11-26
[3]
试验装置及试验单元 [P]. 
末冈久幸 ;
内田毅 .
中国专利 :CN104949837A ,2015-09-30
[4]
减振器试验装置 [P]. 
张磊 ;
丁鑫 ;
李永生 ;
张永胜 .
中国专利 :CN221425941U ,2024-07-26
[5]
磁传感器试验装置 [P]. 
圆道祐树 ;
菊池有朋 ;
中村重男 .
中国专利 :CN109387800A ,2019-02-26
[6]
试验装置 [P]. 
周期旺 ;
谢伟藩 ;
彭志遒 ;
梁宇清 ;
眭绍清 .
中国专利 :CN217878369U ,2022-11-22
[7]
试验装置 [P]. 
B.G.詹森 .
中国专利 :CN103792074A ,2014-05-14
[8]
耐久性试验装置 [P]. 
王乃文 ;
何强 .
中国专利 :CN111504625B ,2025-07-01
[9]
抗振性能试验装置 [P]. 
刘玉龙 ;
林岳洪 ;
柏保国 .
中国专利 :CN222105265U ,2024-12-03
[10]
存储器试验装置 [P]. 
碁石优 .
中国专利 :CN1213455A ,1999-04-07