新型测试探针

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921371930.2

申请日：

2019-08-22

公开(公告)号：

CN210894444U

公开(公告)日：

2020-06-30

发明(设计)人：

谢文青胡南刘建睿刘爽赵丽新袁昌勇

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区农大南路1号硅谷亮城5号楼406室

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R2910 H01Q1302 H01Q1700

代理机构：

石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128

代理人：

王占华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-30	授权	授权

共 50 条

[1]

测试探针 [P].

蔡兴杰 .

中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19

[2]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

蔡明峻 ;

李尧 .

中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20

[3]

测试探针 [P].

赵悦春 ;

冯志永 ;

邹健 ;

孙谢杨 ;

陈骏 ;

李建鹏 ;

张浩 ;

孙昊 ;

赵峥 ;

王爱政 ;

朱凯 ;

朱爽 .

中国专利 :CN223411879U ,2025-10-03

[4]

测试探针 [P].

吴志成 ;

杨昌国 .

中国专利 :CN2491846Y ,2002-05-15

[5]

测试探针 [P].

土屋利彦 ;

堀诚一 .

中国专利 :CN201845029U ,2011-05-25

[6]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

黄文强 ;

陈永辉 ;

李尧 .

中国专利 :CN216816757U ,2022-06-24

[7]

测试探针 [P].

D·马克 ;

Z·G·唐 ;

K·K·刘 ;

T·H·J·唐 ;

S·M·J·吴 ;

S·K·重 ;

C·W·勇 ;

W·S·勇 ;

E·蔡 .

中国专利 :CN208432644U ,2019-01-25

[8]

测试探针 [P].

李冠兴 ;

高合助 .

中国专利 :CN201436589U ,2010-04-07

[9]

测试探针 [P].

高春瑞 .

中国专利 :CN204631079U ,2015-09-09

[10]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30

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