状态分析方法、装置和设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010851303.X
申请日
2020-08-21
公开(公告)号
CN112086135B
公开(公告)日
2020-12-15
发明(设计)人
李祥贵 李媛媛 陈大伟 程亚娟
申请人
申请人地址
100085 北京市朝阳区北四环中路35号北京信息科技大学健翔桥校区
IPC主分类号
G16C1000
IPC分类号
G06N312
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
朱颖;刘芳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
停留状态分析装置、停留状态分析系统和停留状态分析方法 [P]. 
合田阳一 ;
松本裕一 ;
由雄宏明 .
中国专利 :CN104574437A ,2015-04-29
[2]
物品状态分析装置、物品状态分析系统和物品状态分析方法 [P]. 
平川邦雄 ;
宇野嘉修 ;
中畑裕一 .
中国专利 :CN103971266B ,2014-08-06
[3]
一种设备的状态分析方法和分析装置 [P]. 
纪晓峰 ;
武晓宇 ;
冯文梁 ;
康炳南 .
中国专利 :CN114691447A ,2022-07-01
[4]
状态分析方法、装置和系统 [P]. 
蔡显志 ;
范志刚 ;
卢涛 .
中国专利 :CN111752792A ,2020-10-09
[5]
状态分析方法、装置和系统 [P]. 
蔡显志 ;
范志刚 ;
卢涛 .
中国专利 :CN111752792B ,2025-07-18
[6]
刀具状态分析方法和装置、设备及介质 [P]. 
曾德标 ;
喻志勇 ;
李卫东 ;
李博 ;
周昕 ;
毛一砚 ;
王伟 ;
罗捷 .
中国专利 :CN120734821A ,2025-10-03
[7]
通信状态分析方法和通信状态分析系统 [P]. 
池田雄一郎 ;
山下和直太 ;
川又政明 .
中国专利 :CN109429252A ,2019-03-05
[8]
肌肤状态分析方法、肌肤状态分析装置 [P]. 
北村尚美 ;
舛田勇二 ;
大西浩之 .
中国专利 :CN101548880B ,2009-10-07
[9]
肌肤状态分析方法、肌肤状态分析装置 [P]. 
北村尚美 ;
舛田勇二 ;
大西浩之 .
中国专利 :CN101170945B ,2008-04-30
[10]
肌肤状态分析方法以及肌肤状态分析装置 [P]. 
舛田勇二 ;
北村尚美 .
中国专利 :CN1961820B ,2007-05-16