自动化测试方法及测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210263950.4

申请日：

2012-07-27

公开(公告)号：

CN103578463A

公开(公告)日：

2014-02-12

发明(设计)人：

宁京袁建发

申请人：

申请人地址：

518044 广东省深圳市福田区振兴路赛格科技园2栋东403室

IPC主分类号：

G10L1500

IPC分类号：

G10L1308 G10L2548

代理机构：

上海波拓知识产权代理有限公司 31264

代理人：

杨波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101609516736 IPC(主分类):G10L 15/00 专利申请号:2012102639504 申请日:20120727
2014-02-12	公开	公开
2017-12-01	授权	授权

共 50 条

[1]

自动化测试装置及自动化测试方法 [P].

李路 ;

高伟 .

中国专利 :CN113064054A ,2021-07-02

[2]

自动化测试方法、自动化测试装置 [P].

朱礼华 ;

边志耀 ;

王丽娜 ;

赵元楠 ;

陈花 .

中国专利 :CN117827644A ,2024-04-05

[3]

自动化测试方法、自动化测试装置 [P].

朱礼华 ;

边志耀 ;

王丽娜 ;

赵元楠 ;

陈花 .

中国专利 :CN117827644B ,2025-04-18

[4]

自动化测试装置及方法 [P].

郑秋燕 .

中国专利 :CN105159833A ,2015-12-16

[5]

自动化测试装置及测试方法 [P].

蔡冬 ;

李晨阳 ;

张健 ;

李月 ;

刘增争 ;

康伟东 .

中国专利 :CN120835021A ,2025-10-24

[6]

测试装置及其自动化测试方法 [P].

崔磊 ;

王晓峰 ;

吕昭融 .

中国专利 :CN101788641A ,2010-07-28

[7]

自动化芯片测试装置及自动化芯片测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

刘春容 ;

陈思桦 .

中国专利 :CN119716475A ,2025-03-28

[8]

业务系统的自动化测试装置及测试方法 [P].

段翔 ;

袁向阳 .

中国专利 :CN100384162C ,2006-07-19

[9]

自动化测试装置及测试系统 [P].

闫鑫 ;

狄文欢 ;

臧其甫 .

中国专利 :CN209446688U ,2019-09-27

[10]

导流片自动化测试装置及方法 [P].

王亚运 ;

代朝刚 ;

潘霏霏 ;

周星栋 ;

张雅梦 ;

王倩 .

中国专利 :CN118376418A ,2024-07-23

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