物体表面缺陷检测方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810562721.X

申请日：

2018-06-01

公开(公告)号：

CN108846837A

公开(公告)日：

2018-11-20

发明(设计)人：

张成松杨帆王耀晖

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地信息产业基地创业路6号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T755

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

吕雁葭

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-16	授权	授权
2018-11-20	公开	公开
2018-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20180601

共 50 条

[1]

物体表面缺陷检测方法、装置 [P].

周才健 ;

周柔刚 ;

盛锦华 .

中国专利 :CN110349133B ,2019-10-18

[2]

物体表面缺陷检测装置 [P].

秦良杰 .

中国专利 :CN215448943U ,2022-01-07

[3]

物体表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN114359228A ,2022-04-15

[4]

物体表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

丁凡 ;

葛俊辉 ;

沈小龙 ;

邓文平 .

中国专利 :CN117740801A ,2024-03-22

[5]

基于yolov7的物体表面缺陷检测方法 [P].

汤景凡 ;

李非凡 ;

张旻 ;

姜明 .

中国专利 :CN116958074B ,2025-08-26

[6]

光滑物体表面缺陷检测方法、装置、设备及介质 [P].

张继华 ;

黄辉 ;

温柳康 ;

易佳朋 .

中国专利 :CN113344865A ,2021-09-03

[7]

光滑物体表面缺陷检测方法、装置、设备及介质 [P].

张继华 ;

黄辉 ;

温柳康 ;

易佳朋 .

中国专利 :CN113344865B ,2024-12-13

[8]

反光物体表面缺陷检测装置 [P].

侯晓峰 ;

张弛 ;

朱磊 .

中国专利 :CN307210464S ,2022-03-29

[9]

物体表面缺陷检测方法、相关装置及计算机存储介质 [P].

刘明宇 .

中国专利 :CN112669271A ,2021-04-16

[10]

物体表面缺陷检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备 [P].

钟成堡 ;

王长恺 ;

刘志昌 ;

程江昊 ;

王春龙 .

中国专利 :CN121032948A ,2025-11-28

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