一种平行平板波导测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821068330.4

申请日：

2018-07-06

公开(公告)号：

CN208350679U

公开(公告)日：

2019-01-08

发明(设计)人：

闫焕磊时西航许弘毅高振

申请人：

申请人地址：

518049 广东省深圳市福田区多丽工业园二栋405室

IPC主分类号：

G01N2200

IPC分类号：

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司 33200

代理人：

郑海峰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-08	授权	授权

共 50 条

[1]

平行平板波导测量装置及方法 [P].

闫焕磊 ;

时西航 ;

许弘毅 ;

高振 .

中国专利 :CN108872268A ,2018-11-23

[2]

一种近场电磁波测量系统 [P].

闫焕磊 ;

时西航 ;

许弘毅 ;

高振 .

中国专利 :CN208350680U ,2019-01-08

[3]

一种基于平行平板的光杠杆位移测量装置 [P].

李杏华 ;

吕泽奎 ;

苏智琨 .

中国专利 :CN208765671U ,2019-04-19

[4]

基于基片集成脊波导的介电系数测量探头及测量装置 [P].

陈倩 ;

刘长军 ;

王家彬 ;

黄何平 .

中国专利 :CN217443452U ,2022-09-16

[5]

一种基于平行平板光杠杆的薄片厚度测量装置 [P].

李杏华 ;

吕泽奎 ;

苏智琨 .

中国专利 :CN208765674U ,2019-04-19

[6]

一种平行测量装置 [P].

陈养团 ;

刘石岩 ;

孙银健 ;

郭敬 ;

陈仁 .

中国专利 :CN216977757U ,2022-07-15

[7]

一种波导测量装置 [P].

陈敏豪 ;

毛喆 ;

刘兰波 ;

马小杰 ;

周恩华 ;

陆超 .

中国专利 :CN216954272U ,2022-07-12

[8]

一种介质材料电磁参数测量装置 [P].

刘海 ;

张俊明 ;

肖芬 ;

柳清伙 .

中国专利 :CN206848193U ,2018-01-05

[9]

一种快速测量平行平板平行度的装置和方法 [P].

吴金才 ;

何志平 ;

张亮 ;

窦永昊 .

中国专利 :CN111238408A ,2020-06-05

[10]

平行平板平行度测量方法 [P].

黄一凡 ;

李梁玮 ;

罗粤浩 ;

余鑫巍 .

中国专利 :CN119845192A ,2025-04-18

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