一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置

被引：0

申请号：

CN202220649141.6

申请日：

2022-03-24

公开(公告)号：

CN217181096U

公开(公告)日：

2022-08-12

发明(设计)人：

张雪奎张伟郑耀春

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区嘉宾路4028号太平洋商贸大厦A座18A

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

G01R102 G01R104 B25H100

代理机构：

北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825

代理人：

李祥旗

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置 [P].

赵军友 ;

郑耀春 ;

郑伟 .

中国专利 :CN217033446U ,2022-07-22

[2]

一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置 [P].

袁荣祺 ;

陈强 .

中国专利 :CN222837938U ,2025-05-06

[3]

电子元器件检测装置 [P].

潘福源 ;

张云 .

中国专利 :CN212008851U ,2020-11-24

[4]

一种电子元器件检测装置 [P].

马笑兰 .

中国专利 :CN222617793U ,2025-03-14

[5]

一种电子元器件性能检测装置 [P].

刘新文 ;

朱俊琦 ;

杨军 ;

汪维平 ;

聂延伟 ;

董秦博 ;

杨国牛 ;

刘伟锋 ;

夏启飞 ;

白明月 ;

何海莹 ;

权亚娟 ;

王彩云 ;

李燕 ;

苏玲玲 .

中国专利 :CN118348285A ,2024-07-16

[6]

一种电子元器件性能检测装置 [P].

刘新文 ;

朱俊琦 ;

杨军 ;

汪维平 ;

聂延伟 ;

董秦博 ;

杨国牛 ;

刘伟锋 ;

夏启飞 ;

白明月 ;

何海莹 ;

权亚娟 ;

王彩云 ;

李燕 ;

苏玲玲 .

中国专利 :CN118348285B ,2024-08-13

[7]

一种电子元器件的耐高温性能检测装置 [P].

赵虎政 ;

严定金 .

中国专利 :CN218331797U ,2023-01-17

[8]

一种电子元器件抗压检测装置 [P].

王瑜 ;

吴志峰 ;

霍彦会 .

中国专利 :CN222379484U ,2025-01-21

[9]

一种电子元器件包装管性能检测装置 [P].

孙益州 ;

朱春松 ;

胡方来 ;

徐海涛 .

中国专利 :CN218455615U ,2023-02-07

[10]

一种用于电子元器件的封装检测装置 [P].

张国巍 .

中国专利 :CN222280679U ,2024-12-31

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