自动化测试系统、方法、计算设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910305929.8

申请日：

2019-04-16

公开(公告)号：

CN110008133A

公开(公告)日：

2019-07-12

发明(设计)人：

邵逸侯锐王家威

申请人：

申请人地址：

519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇前岛环路325号102室、202室、302室、402室，327号102室、202室，329号302室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京智信禾专利代理有限公司 11637

代理人：

吴肖肖

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-12	公开	公开
2019-08-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20190416

共 50 条

[1]

自动化测试方法、测试设备、自动化测试系统及存储介质 [P].

朱渊 .

中国专利 :CN107896173A ,2018-04-10

[2]

一种自动化测试系统及方法、存储介质、计算设备 [P].

薛少毅 ;

杜天泽 ;

胡培永 .

中国专利 :CN112463588A ,2021-03-09

[3]

一种前端自动化测试系统及方法、存储介质、计算设备 [P].

杜天泽 ;

薛少毅 ;

胡培永 .

中国专利 :CN112306862A ,2021-02-02

[4]

一种前端自动化测试系统及方法、存储介质、计算设备 [P].

杜天泽 ;

薛少毅 ;

胡培永 .

中国专利 :CN112306862B ,2024-06-07

[5]

软件自动化测试系统、方法、设备及存储介质 [P].

黄健 ;

刘梓懿 .

中国专利 :CN114328253A ,2022-04-12

[6]

自动化测试方法、系统、计算机设备及存储介质 [P].

王祥传 .

中国专利 :CN113886260A ,2022-01-04

[7]

一种自动化测试系统、自动化测试方法、设备及存储介质 [P].

许思琦 ;

徐雅琳 .

中国专利 :CN115495382A ,2022-12-20

[8]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

王闪闪 .

中国专利 :CN115599683A ,2023-01-13

[9]

芯片自动化测试系统、方法及存储介质 [P].

孔康 ;

戴佳 ;

薛颖 .

中国专利 :CN115629295A ,2023-01-20

[10]

自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

蔡文静 ;

汤利顺 ;

孙克文 ;

赵泽华 ;

贾政权 ;

张天 ;

刘旸 ;

张麟 ;

刘嘉奇 .

中国专利 :CN115437351A ,2022-12-06

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