一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211071529.3

申请日：

2022-09-02

公开(公告)号：

CN115359034A

公开(公告)日：

2022-11-18

发明(设计)人：

周扬舒嘉晨李睿宇吕江波沈小勇

申请人：

申请人地址：

518063 广东省深圳市南山区高新南九道45号三航科技大厦22楼

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T760 G06T770 G06T340

代理机构：

北京信远达知识产权代理有限公司 11304

代理人：

柳欣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220902
2022-11-18	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN114529511A ,2022-05-24

[2]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN114529511B ,2025-03-14

[3]

缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

韦敏 ;

杨嘉成 .

中国专利 :CN119477927A ,2025-02-18

[4]

一种产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

马学睿 .

中国专利 :CN120689341A ,2025-09-23

[5]

产品缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

张辉 ;

刘昌祥 .

中国专利 :CN118037719A ,2024-05-14

[6]

产品缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

张辉 ;

刘昌祥 .

中国专利 :CN118037719B ,2024-07-02

[7]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郑星 ;

钟巧勇 ;

谢迪 .

中国专利 :CN120725955A ,2025-09-30

[8]

缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

郑国荣 ;

董鹏 ;

钟汉龙 ;

曾勇威 ;

谢佳衔 .

中国专利 :CN120823218A ,2025-10-21

[9]

缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

郑国荣 ;

董鹏 ;

钟汉龙 ;

曾勇威 ;

谢佳衔 .

中国专利 :CN120823218B ,2025-11-21

[10]

一种缺陷检测方法、系统、装置及存储介质 [P].

王睿 ;

彭广德 ;

李卫燊 ;

李卫铳 .

中国专利 :CN115392359A ,2022-11-25

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