功率器件高度测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201520289476.1
申请日
2015-05-06
公开(公告)号
CN204730817U
公开(公告)日
2015-10-28
发明(设计)人
闻锦辉 甘威 何小龙
申请人
申请人地址
519070 广东省珠海市前山金鸡西路
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
北京市隆安律师事务所 11323
代理人
廉振保
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
功率器件高度测试设备 [P]. 
闻锦辉 ;
甘威 ;
何小龙 .
中国专利 :CN106871841A ,2017-06-20
[2]
信号针测试模块及功率器件测试设备 [P]. 
孙澄 ;
马兆旺 .
中国专利 :CN220650821U ,2024-03-22
[3]
功率器件测试装置、动态测试设备及功率器件测试系统 [P]. 
江世超 ;
刘伟 ;
程加昌 ;
汪建明 ;
施贻蒙 ;
王文广 ;
李军 .
中国专利 :CN119291434A ,2025-01-10
[4]
一种功率器件通用测试设备 [P]. 
李尚锟 ;
刘荣军 ;
杨强 ;
汤晓东 ;
牛宏伟 ;
赵灿 ;
孙浩然 ;
刘沛 ;
江家乐 ;
韩旭 .
中国专利 :CN223272633U ,2025-08-26
[5]
多功能测试设备(功率器件) [P]. 
张培义 ;
杜聚有 .
中国专利 :CN307495185S ,2022-08-12
[6]
一种功率器件功率循环测试设备 [P]. 
郑晔 ;
江华 ;
丘文华 ;
郑汝才 ;
何文龙 .
中国专利 :CN118795250A ,2024-10-18
[7]
功率器件量产老化测试用老化测试设备 [P]. 
孙浩强 ;
孙元鹏 ;
吕岩 ;
张文亮 ;
佘超群 .
中国专利 :CN218122160U ,2022-12-23
[8]
一种功率器件通用型测试设备 [P]. 
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[9]
半导体功率器件的并行测试设备 [P]. 
陈飞 ;
杨宇 ;
都俊兴 ;
周杰 ;
张震 .
中国专利 :CN109727882B ,2019-05-07
[10]
功率器件及功率设备 [P]. 
李高显 ;
党晓波 ;
严波 ;
王锁海 .
中国专利 :CN218123406U ,2022-12-23