一种硅片线痕检测方法及检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610873143.2

申请日：

2016-09-30

公开(公告)号：

CN106556610A

公开(公告)日：

2017-04-05

发明(设计)人：

尹昊郭立陈勇平

申请人：

申请人地址：

410111 湖南省长沙市天心区新开铺路1025号

IPC主分类号：

G01N21956

IPC分类号：

G01B1100 G01K1300

代理机构：

湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008

代理人：

周长清;蒋维特

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-05	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 21/956 申请公布日:20170405
2017-04-05	公开	公开
2017-05-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101716975841 IPC(主分类):G01N 21/956 专利申请号:2016108731432 申请日:20160930

共 50 条

[1]

一种硅片线痕检测装置及检测方法 [P].

郭立 ;

樊坤 ;

尹昊 ;

陈勇平 .

中国专利 :CN106571314A ,2017-04-19

[2]

一种硅片检测装置及检测方法 [P].

蒲天 ;

程明 ;

吴正福 .

中国专利 :CN113945517A ,2022-01-18

[3]

硅片检测方法、装置及硅片检测系统 [P].

孙立安 ;

徐茂勇 ;

高鹏 .

中国专利 :CN121054507A ,2025-12-02

[4]

一种线束压接端子姿态的检测装置及检测方法 [P].

曹策 ;

张立文 ;

姜良旭 ;

付云博 ;

郭同健 .

中国专利 :CN110160493B ,2019-08-23

[5]

一种硅片线痕的检测方法和检测系统 [P].

程明 ;

汤志渊 ;

徐虎 .

中国专利 :CN120890998A ,2025-11-04

[6]

一种不同颜色弹簧检测装置及检测方法 [P].

张爽 ;

王华 ;

侯岱双 ;

高金刚 ;

赵伟甫 ;

祝国凯 ;

陈儒 ;

郭于龙 ;

吴东旭 ;

杨青山 .

中国专利 :CN110530635B ,2019-12-03

[7]

一种硅片平坦度检测装置及硅片厚度分选系统 [P].

王壹帆 ;

张琪 ;

李博 ;

胡碧波 .

中国专利 :CN116967150B ,2024-02-02

[8]

一种应力痕检测方法及应力痕检测装置 [P].

廖文操 ;

张腾飞 ;

肖琦 .

中国专利 :CN119164957A ,2024-12-20

[9]

太阳能硅片线痕高精度检测系统 [P].

陈利平 ;

惠施 ;

裴世铀 ;

李波 .

中国专利 :CN103323466A ,2013-09-25

[10]

太阳能硅片线痕高精度检测系统 [P].

陈利平 ;

惠施 ;

裴世铀 ;

李波 .

中国专利 :CN202494648U ,2012-10-17

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