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用于体积计算机断层摄影成像的多面可平铺检测器
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201010625136.3
申请日：
2010-12-27
公开(公告)号：
CN102440794A
公开(公告)日：
2012-05-09
发明(设计)人：
A·伊赫勒夫
申请人：
申请人地址：
美国纽约州
IPC主分类号：
A61B603
IPC分类号：
代理机构：
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人：
叶晓勇;王忠忠
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2012-05-09 | 公开 | 公开 |
| 2013-09-18 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101518321877 IPC(主分类):A61B 6/03 专利申请号:2010106251363 申请日:20101227 |
| 2015-06-17 | 授权 | 授权 |