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X光异物检测设备
被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN201730325076.6
申请日：
2017-07-21
公开(公告)号：
CN304460426S
公开(公告)日：
2018-01-16
发明(设计)人：
洪坚
朱亚涛
申请人：
申请人地址：
201203 上海市浦东新区张江高科技园区碧波路456号C102室
IPC主分类号：
1005
IPC分类号：
代理机构：
上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242
代理人：
王松
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-01-16 | 授权 | 授权 |