用于数据库性能测试的方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911400939.6

申请日：

2019-12-30

公开(公告)号：

CN113127312A

公开(公告)日：

2021-07-16

发明(设计)人：

余邵在

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区小营西路33号金山软件大厦

IPC主分类号：

G06F1134

IPC分类号：

代理机构：

北京博遵律师事务所 11761

代理人：

马佑平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/34 申请日:20191230
2021-07-16	公开	公开

共 50 条

[1]

用于数据库性能测试的方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余邵在 .

中国专利 :CN113127312B ,2024-04-05

[2]

数据库性能监控方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谭洁帆 .

中国专利 :CN114564354B ,2025-12-05

[3]

数据库性能确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘强 ;

刘子彤 .

中国专利 :CN118733626A ,2024-10-01

[4]

数据库性能监控方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谭洁帆 .

中国专利 :CN114564354A ,2022-05-31

[5]

数据库性能的测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

张涛 .

中国专利 :CN117573548A ,2024-02-20

[6]

图数据库的数据导入方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

李本利 ;

于东海 ;

孙仕杰 ;

黄兴 ;

林志恒 ;

高品 ;

王洋子豪 ;

吴文强 .

中国专利 :CN114860821A ,2022-08-05

[7]

数据库同步的方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李霞 ;

刘东坡 ;

刘奇 ;

黄东旭 ;

崔秋 .

中国专利 :CN115577041A ,2023-01-06

[8]

数据库性能优化方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陶然 ;

黄悦悦 .

中国专利 :CN119884074A ,2025-04-25

[9]

数据库探测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何雷 .

中国专利 :CN117472996A ,2024-01-30

[10]

数据库压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈胜 .

中国专利 :CN120448233A ,2025-08-08

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