OLED接触阻抗测试组件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410431193.6

申请日：

2014-08-28

公开(公告)号：

CN104198817A

公开(公告)日：

2014-12-10

发明(设计)人：

许嘉哲

申请人：

申请人地址：

201508 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

上海唯源专利代理有限公司 31229

代理人：

曾耀先

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-10	公开	公开
2020-08-11	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 27/02 变更事项:专利权人变更前:上海和辉光电有限公司变更后:上海和辉光电股份有限公司变更事项:地址变更前:201508 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室变更后:201506 上海市金山区金山工业区九工路1568号
2015-01-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101594579822 IPC(主分类):G01R 27/02 专利申请号:2014104311936 申请日:20140828
2017-02-01	授权	授权

共 50 条

[1]

接触阻抗测试端子及接触阻抗测试方法 [P].

顾理强 ;

黄涛 ;

李叶标 ;

王大成 .

中国专利 :CN110261681A ,2019-09-20

[2]

接触阻抗测试端子及接触阻抗测试方法 [P].

顾理强 ;

黄涛 ;

李叶标 ;

王大成 .

中国专利 :CN110261681B ,2024-05-17

[3]

接触阻抗测试端子 [P].

顾理强 ;

黄涛 ;

李叶标 ;

王大成 .

中国专利 :CN211086445U ,2020-07-24

[4]

用于OLED阻抗测试治具 [P].

陈顺利 ;

舒丽君 .

中国专利 :CN215263637U ,2021-12-21

[5]

接触阻抗测试方法及系统、接触测试方法、测试治具 [P].

牛庆亮 ;

岳鹏阁 .

中国专利 :CN117590075A ,2024-02-23

[6]

阻抗测试探针组件 [P].

黄韬 .

中国专利 :CN105823912B ,2016-08-03

[7]

阻抗测试探针组件 [P].

黄韬 .

中国专利 :CN205691623U ,2016-11-16

[8]

一种接触阻抗测试系统 [P].

顾金良 ;

王雪军 ;

罗红娥 ;

夏言 ;

栗保明 .

中国专利 :CN109342820A ,2019-02-15

[9]

中性电极电气接触阻抗测试系统 [P].

朱忠明 ;

丁红雪 ;

张韵奇 .

中国专利 :CN201859180U ,2011-06-08

[10]

线路板阻抗测试辅助组件及阻抗测试装置 [P].

范红 ;

吴高月 ;

白岩岩 ;

樊明 .

中国专利 :CN209608939U ,2019-11-08

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