学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
电源电路老化装置及老化试验方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010054254.7
申请日
:
2020-01-17
公开(公告)号
:
CN113219318A
公开(公告)日
:
2021-08-06
发明(设计)人
:
王士江
申请人
:
申请人地址
:
100089 北京市海淀区西三环北路87号13层3-1301
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R3140
代理机构
:
北京成创同维知识产权代理有限公司 11449
代理人
:
蔡纯;李镇江
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-24
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200117
2021-08-06
公开
公开
共 50 条
[1]
电源设备老化试验方法及装置
[P].
陈京川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈京川
;
丁时安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁时安
;
黄凤江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄凤江
;
黄兴华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄兴华
;
唐燕春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐燕春
.
中国专利
:CN1869728A
,2006-11-29
[2]
老化试验方法
[P].
岛泽幸司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岛泽幸司
;
细井亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
细井亮
;
伊藤靖浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
伊藤靖浩
;
金子正明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金子正明
;
本田隆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
本田隆
;
藤井隆司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
藤井隆司
;
保坂浩治
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
保坂浩治
.
中国专利
:CN102749532B
,2012-10-24
[3]
监视老化试验装置和监视老化试验方法
[P].
前崎义博
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
前崎义博
;
勅使河原宽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
勅使河原宽
;
小平幸彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小平幸彦
;
关口尚枝
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
关口尚枝
.
中国专利
:CN101601098A
,2009-12-09
[4]
热老化试验装置及热老化试验方法
[P].
黄嘉盛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄嘉盛
;
徐研
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐研
;
石银霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石银霞
;
凌颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
凌颖
;
贺伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贺伟
;
肖健健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖健健
;
慕容啟华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
慕容啟华
.
中国专利
:CN108535172B
,2018-09-14
[5]
膜类材料的老化试验装置及老化试验方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
段春莲
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
屈维
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李永祥
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李琛
.
中国专利
:CN118937194A
,2024-11-12
[6]
一种老化试验方法和老化试验架
[P].
苏遵惠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏遵惠
;
冯俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
冯俊
;
贺苏娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贺苏娟
.
中国专利
:CN102230876B
,2011-11-02
[7]
彩色混凝土老化试验方法
[P].
蒋科仪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
蒋科仪
;
谢奥成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
谢奥成
;
刘畅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
刘畅
;
邹笃建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
邹笃建
;
张欣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
张欣
;
杨佳智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
杨佳智
;
阙子超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
阙子超
;
胡正坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
胡正坤
.
中国专利
:CN120177340A
,2025-06-20
[8]
彩色混凝土老化试验方法
[P].
蒋科仪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
蒋科仪
;
谢奥成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
谢奥成
;
刘畅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
刘畅
;
邹笃建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
邹笃建
;
张欣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
张欣
;
杨佳智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
杨佳智
;
阙子超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
阙子超
;
胡正坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中建三局集团(深圳)有限公司
中建三局集团(深圳)有限公司
胡正坤
.
中国专利
:CN120177340B
,2025-07-25
[9]
电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法
[P].
李小兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李小兵
;
潘广泽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
潘广泽
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王春辉
;
时钟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
时钟
;
李劲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李劲
;
唐敬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
唐敬
;
解江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
解江
;
孟苓辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
孟苓辉
;
周健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
周健
;
王远航
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王远航
;
刘文威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
刘文威
;
杨剑锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
杨剑锋
;
罗琴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
罗琴
.
中国专利
:CN112526333B
,2024-12-13
[10]
电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法
[P].
李小兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李小兵
;
潘广泽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘广泽
;
王春辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王春辉
;
时钟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
时钟
;
李劲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李劲
;
唐敬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐敬
;
解江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
解江
;
孟苓辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟苓辉
;
周健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周健
;
王远航
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王远航
;
刘文威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘文威
;
杨剑锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨剑锋
;
罗琴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗琴
.
中国专利
:CN112526333A
,2021-03-19
←
1
2
3
4
5
→