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一种集成电路多工位测试平台及集成电路测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110202583.6
申请日：
2021-02-24
公开(公告)号：
CN113092985A
公开(公告)日：
2021-07-09
发明(设计)人：
陆敏敏
申请人：
申请人地址：
210000 江苏省南京市六合区雄州街道滁河路132号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-07-09 | 公开 | 公开 |