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一种陶瓷基板下料检测装置
被引:0
申请号
:
CN202221061890.3
申请日
:
2022-05-06
公开(公告)号
:
CN217125254U
公开(公告)日
:
2022-08-05
发明(设计)人
:
吴瑞忠
冯骥勇
杨士文
毛照斌
曾凡淑
申请人
:
申请人地址
:
215300 江苏省苏州市昆山市正仪镇
IPC主分类号
:
B65B3518
IPC分类号
:
B65B3512
代理机构
:
苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙) 32312
代理人
:
李忠洋
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-05
授权
授权
共 50 条
[1]
一种陶瓷基板下料装置
[P].
胡凤鸣
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胡凤鸣
;
夏笛笛
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夏笛笛
.
中国专利
:CN218087792U
,2022-12-20
[2]
一种陶瓷基板损伤检测装置
[P].
季成龙
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机构:
上海富乐华半导体科技有限公司
上海富乐华半导体科技有限公司
季成龙
;
王斌
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机构:
上海富乐华半导体科技有限公司
上海富乐华半导体科技有限公司
王斌
;
陈慧龙
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机构:
上海富乐华半导体科技有限公司
上海富乐华半导体科技有限公司
陈慧龙
;
张鹏
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上海富乐华半导体科技有限公司
上海富乐华半导体科技有限公司
张鹏
;
陈虎
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上海富乐华半导体科技有限公司
上海富乐华半导体科技有限公司
陈虎
.
中国专利
:CN223426550U
,2025-10-10
[3]
一种陶瓷基板外观检测装置
[P].
梁鹏
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梁鹏
;
秦磊
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秦磊
;
林泽钦
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林泽钦
;
王志锋
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王志锋
;
郑振兴
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郑振兴
.
中国专利
:CN211453387U
,2020-09-08
[4]
一种AMB陶瓷基板自动上下料装置
[P].
赵亭
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上海煊廷丝印设备有限公司
上海煊廷丝印设备有限公司
赵亭
.
中国专利
:CN221395968U
,2024-07-23
[5]
一种陶瓷基板检测设备
[P].
彭义青
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泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
彭义青
;
冼平东
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泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
冼平东
;
黄明春
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机构:
泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
黄明春
;
黄为民
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机构:
泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
黄为民
;
王明亮
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泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
王明亮
;
曾海侨
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泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
曾海侨
;
谭建军
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机构:
泰克半导体装备(深圳)有限公司
泰克半导体装备(深圳)有限公司
谭建军
.
中国专利
:CN223426840U
,2025-10-10
[6]
一种陶瓷基板孔位检测装置
[P].
袁宇飞
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珠海市跨芯微科技有限公司
珠海市跨芯微科技有限公司
袁宇飞
;
陈刚
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珠海市跨芯微科技有限公司
珠海市跨芯微科技有限公司
陈刚
;
张光旻
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机构:
珠海市跨芯微科技有限公司
珠海市跨芯微科技有限公司
张光旻
.
中国专利
:CN222112648U
,2024-12-06
[7]
一种陶瓷基板的缺陷检测装置
[P].
戴玮明
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株洲艾森达新材料科技有限公司
株洲艾森达新材料科技有限公司
戴玮明
;
杨峰
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机构:
株洲艾森达新材料科技有限公司
株洲艾森达新材料科技有限公司
杨峰
;
薛哲
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机构:
株洲艾森达新材料科技有限公司
株洲艾森达新材料科技有限公司
薛哲
.
中国专利
:CN223711518U
,2025-12-23
[8]
陶瓷基板外观检测装置
[P].
张留宇
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张留宇
;
李良
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李良
;
刘春铭
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刘春铭
.
中国专利
:CN208902625U
,2019-05-24
[9]
一种陶瓷基板定位校准装置
[P].
贺云波
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贺云波
;
叶文涛
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叶文涛
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刘青山
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刘青山
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陈新
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陈新
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高健
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高健
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杨志军
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杨志军
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张凯
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张凯
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汤晖
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汤晖
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陈桪
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陈桪
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陈云
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陈云
.
中国专利
:CN206992061U
,2018-02-09
[10]
一种陶瓷基板翘曲度的检测装置
[P].
张玺
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张玺
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陈继军
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陈继军
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孙庆海
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孙庆海
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孙红举
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孙红举
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商睿
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商睿
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王浩
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王浩
;
张朝阳
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张朝阳
;
杨雪婷
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杨雪婷
;
王海新
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王海新
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中国专利
:CN210546451U
,2020-05-19
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