光学法颗粒Zeta电位测量时电位极性测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520770241.4

申请日：

2015-09-30

公开(公告)号：

CN205120812U

公开(公告)日：

2016-03-30

发明(设计)人：

范继来韩鹏李晓光邱健王耀祖彭力骆开庆

申请人：

申请人地址：

118009 辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号

IPC主分类号：

G01R1914

IPC分类号：

代理机构：

沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234

代理人：

李晓光

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-30	授权	授权

共 50 条

[1]

光学法颗粒Zeta电位测量时电位极性测量方法及装置 [P].

范继来 ;

韩鹏 ;

李晓光 ;

邱健 ;

王耀祖 ;

彭力 ;

骆开庆 .

中国专利 :CN105203831B ,2015-12-30

[2]

一种颗粒Zeta电位的极性的测量装置 [P].

伊艺 ;

王艳伟 ;

黄申豪 ;

罗盛 ;

牟晓宇 ;

王鹤榕 ;

伍绍宇 ;

吕方怡 .

中国专利 :CN212622784U ,2021-02-26

[3]

zeta电位测量池和颗粒物性测量装置 [P].

山口哲司 ;

名仓诚 .

中国专利 :CN102401777B ,2012-04-04

[4]

流动电位系数与zeta电位的测量装置及其测量方法 [P].

李忠意 ;

程永毅 .

中国专利 :CN112730570A ,2021-04-30

[5]

电位测量装置 [P].

高桂飞 ;

孙勤 ;

李慧玲 ;

付春辉 ;

李长安 .

中国专利 :CN210596268U ,2020-05-22

[6]

电位测量装置 [P].

小木纯 ;

大池祐辅 .

中国专利 :CN108291887A ,2018-07-17

[7]

一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置 [P].

邱健 ;

韩鹏 ;

骆开庆 ;

彭力 .

中国专利 :CN106940301A ,2017-07-11

[8]

电极电位测量装置 [P].

程勋亮 ;

丛琳 ;

汪洋 ;

王军华 .

中国专利 :CN117571809A ,2024-02-20

[9]

电位尺测量装置 [P].

何晓东 .

中国专利 :CN204963940U ,2016-01-13

[10]

一种电位测量装置、电位测量方法 [P].

朱明晓 ;

罗禄洋 ;

任杰睿 ;

徐学凯 ;

何海龙 .

中国专利 :CN118980867A ,2024-11-19

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