一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010877796.4

申请日：

2020-08-27

公开(公告)号：

CN111948617A

公开(公告)日：

2020-11-17

发明(设计)人：

姜丽菲李秀伟徐红新何嘉恺周仁杰陈卫英潘莉

申请人：

申请人地址：

201109 上海市闵行区中春路1777号

IPC主分类号：

G01S740

IPC分类号：

代理机构：

上海汉声知识产权代理有限公司 31236

代理人：

胡晶

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20200827
2020-11-17	公开	公开

共 50 条

[1]

一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统 [P].

姜丽菲 ;

李秀伟 ;

徐红新 ;

何嘉恺 ;

周仁杰 ;

陈卫英 ;

潘莉 .

中国专利 :CN111948617B ,2024-04-12

[2]

反射面及其制备方法、反射面天线和紧缩场测试系统 [P].

董晓鹏 ;

于伟 .

中国专利 :CN118412666A ,2024-07-30

[3]

一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 [P].

王宏建 ;

易敏 ;

陈雪 ;

赵鑫 ;

刘广 ;

刘世华 ;

郝齐焱 .

中国专利 :CN103185566B ,2013-07-03

[4]

星载微波辐射计天线发射率的在轨测试系统及测试方法 [P].

董克松 ;

何嘉恺 ;

徐红新 ;

姜丽菲 ;

刘记辰 .

中国专利 :CN114636867B ,2025-07-22

[5]

星载微波辐射计天线发射率的在轨测试系统及测试方法 [P].

董克松 ;

何嘉恺 ;

徐红新 ;

姜丽菲 ;

刘记辰 .

中国专利 :CN114636867A ,2022-06-17

[6]

一种辐射计天线微波发射率测试装置及测试方法 [P].

李向芹 ;

谢振超 ;

栾英宏 ;

何嘉凯 ;

龙澄 ;

葛如飞 ;

李雪 ;

吴涛 ;

邙晓斌 ;

王芸 ;

杨永键 ;

于雨 .

中国专利 :CN115542025A ,2022-12-30

[7]

一种反射面天线面板分块方法及反射面天线 [P].

刘国玺 ;

杜彪 ;

郑元鹏 ;

伍洋 ;

周书中 ;

赵均红 ;

韦鹏 ;

师民祥 ;

张一凡 ;

杨晋蓉 ;

刘健泉 ;

陈隆 .

中国专利 :CN108110432A ,2018-06-01

[8]

一种反射面天线 [P].

吴东梅 .

中国专利 :CN212434823U ,2021-01-29

[9]

一种多波束反射面天线测试装置 [P].

束洋 ;

孙远涛 ;

杨双根 ;

周骏 ;

杨涛 ;

王小宇 ;

曹强 ;

石磊 ;

吴涛 ;

石方亮 ;

廖延鹏 ;

李盛鹏 .

中国专利 :CN216310135U ,2022-04-15

[10]

一种反射面天线 [P].

杜惠平 .

中国专利 :CN1101172A ,1995-04-05

← 1 2 3 4 5 →