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光学相干断层成像内窥探头及成像系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020586777.1
申请日：
2020-04-17
公开(公告)号：
CN212394892U
公开(公告)日：
2021-01-26
发明(设计)人：
李奕
孙平
刘红宇
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道金辉路14号深圳市生物医药创新产业园区1号楼401A2号
IPC主分类号：
A61B500
IPC分类号：
A61B107
A61B100
代理机构：
深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232
代理人：
马凯华
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-01-26 | 授权 | 授权 |