电磁发热盘老化测试用工装板

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020792079.7

申请日：

2020-05-13

公开(公告)号：

CN212207549U

公开(公告)日：

2020-12-22

发明(设计)人：

张竣雄郑勇军何裕确郑从伟

申请人：

申请人地址：

528322 广东省佛山市顺德区勒流街道办事处江村村委会江村工业大道西六路3号A区

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R104 G01N2500

代理机构：

佛山市原创智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 44556

代理人：

廖紫兰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-22	授权	授权

共 50 条

[1]

电磁发热盘老化测试用整体式锅具 [P].

张竣雄 ;

郑勇军 ;

何裕确 ;

郑从伟 .

中国专利 :CN212207550U ,2020-12-22

[2]

分立器件老化测试用工装 [P].

梁维群 .

中国专利 :CN204855671U ,2015-12-09

[3]

电磁发热盘老化测试生产线 [P].

张竣雄 ;

郑勇军 ;

何裕确 ;

郑从伟 .

中国专利 :CN212364458U ,2021-01-15

[4]

探头通断或老化测试用工装 [P].

明路 ;

王兰松 ;

周诚 .

中国专利 :CN211402584U ,2020-09-01

[5]

电磁发热盘老化测试机的双层结构 [P].

张竣雄 ;

郑勇军 ;

何裕确 ;

郑从伟 .

中国专利 :CN212207551U ,2020-12-22

[6]

电磁发热盘老化测试生产线 [P].

张竣雄 ;

郑勇军 ;

何裕确 ;

郑从伟 .

中国专利 :CN111443257A ,2020-07-24

[7]

电磁发热盘老化测试生产线 [P].

张竣雄 ;

郑勇军 ;

何裕确 ;

郑从伟 .

中国专利 :CN111443257B ,2024-10-18

[8]

一种芯片耐老化测试用工装 [P].

孙志威 ;

王岩 .

中国专利 :CN222337290U ,2025-01-10

[9]

老化测试用测试板 [P].

文长植 .

韩国专利 :CN120595066A ,2025-09-05

[10]

一种灯具测试用工装板 [P].

李伟坚 .

中国专利 :CN204287238U ,2015-04-22

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