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基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910902225.9
申请日
:
2019-09-23
公开(公告)号
:
CN110632499A
公开(公告)日
:
2019-12-31
发明(设计)人
:
刘超
孙阳
余景亮
申请人
:
申请人地址
:
519000 广东省珠海市前山金鸡西路
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京聿宏知识产权代理有限公司 11372
代理人
:
吴大建;张杰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-23
授权
授权
2019-12-31
公开
公开
2020-01-24
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190923
共 50 条
[1]
测试向量生成方法、装置、测试方法、系统及存储介质
[P].
李路遥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李路遥
;
杨旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨旭
;
吕真
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕真
;
李彤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李彤
.
中国专利
:CN114185813B
,2022-03-15
[2]
存储测试向量生成方法、装置、设备及存储介质
[P].
孙位
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长三角集成电路工业应用技术创新中心
长三角集成电路工业应用技术创新中心
孙位
;
杨书才
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长三角集成电路工业应用技术创新中心
长三角集成电路工业应用技术创新中心
杨书才
;
谢斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长三角集成电路工业应用技术创新中心
长三角集成电路工业应用技术创新中心
谢斌
.
中国专利
:CN121116287A
,2025-12-12
[3]
芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质
[P].
朱康宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱康宁
;
张文平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张文平
;
曹顺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹顺
.
中国专利
:CN113849419B
,2021-12-28
[4]
芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质
[P].
张童
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥智芯半导体有限公司
合肥智芯半导体有限公司
张童
;
章伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥智芯半导体有限公司
合肥智芯半导体有限公司
章伟
.
中国专利
:CN118425742A
,2024-08-02
[5]
芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质
[P].
张童
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥智芯半导体有限公司
合肥智芯半导体有限公司
张童
;
章伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥智芯半导体有限公司
合肥智芯半导体有限公司
章伟
.
中国专利
:CN118425742B
,2024-09-03
[6]
一种测试向量生成方法、装置及存储介质
[P].
钱静洁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡玖熠半导体科技有限公司
无锡玖熠半导体科技有限公司
钱静洁
.
中国专利
:CN114398848B
,2024-06-18
[7]
测试向量的生成方法及计算机可读存储介质
[P].
刘甲全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
刘甲全
;
左克扬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
左克扬
;
万波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
万波
;
谢沛杉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
谢沛杉
.
中国专利
:CN118886393A
,2024-11-01
[8]
测试向量的生成方法及计算机可读存储介质
[P].
刘甲全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
刘甲全
;
左克扬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
左克扬
;
万波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
万波
;
谢沛杉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南宁初芯集成电路设计有限公司
南宁初芯集成电路设计有限公司
谢沛杉
.
中国专利
:CN118886393B
,2025-07-01
[9]
一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质
[P].
陈浩牧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海亿瑞芯电子科技有限公司
上海亿瑞芯电子科技有限公司
陈浩牧
.
中国专利
:CN120214547A
,2025-06-27
[10]
一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质
[P].
陈浩牧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海亿瑞芯电子科技有限公司
上海亿瑞芯电子科技有限公司
陈浩牧
.
中国专利
:CN120214547B
,2025-09-02
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