双探针微纳米力学检测系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200910088434.0
申请日
2009-07-07
公开(公告)号
CN101629885A
公开(公告)日
2010-01-20
发明(设计)人
李喜德 孙立娟 苏东川
申请人
申请人地址
100084北京市100084-82信箱
IPC主分类号
G01N308
IPC分类号
G01N320 G01N332
代理机构
北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人
张文宝
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
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