一种热控涂层太阳吸收率的测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010107460.6
申请日
2010-02-05
公开(公告)号
CN101788511A
公开(公告)日
2010-07-28
发明(设计)人
赵慧洁 张颖 邢辉 张庆祥 王立 唐吾
申请人
申请人地址
100191 北京市海淀区学院路37号北航17系
IPC主分类号
G01N2520
IPC分类号
代理机构
北京慧泉知识产权代理有限公司 11232
代理人
王顺荣;唐爱华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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[3]
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[8]
一种镁合金低吸收率有机热控涂层及其制备方法 [P]. 
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[9]
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[10]
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