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一种可优化重复性的双光束测光装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021030341.0
申请日
:
2020-06-05
公开(公告)号
:
CN212133866U
公开(公告)日
:
2020-12-11
发明(设计)人
:
彭磊
黄洁锋
李生佩
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华区龙华街道油松社区水斗新围村品创源科技园B栋5层502
IPC主分类号
:
G01J346
IPC分类号
:
G01J302
代理机构
:
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人
:
彭西洋;谭雪婷
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-11
授权
授权
共 50 条
[1]
一种优化重复性的双光束测光装置
[P].
彭磊
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彭磊
;
黄洁锋
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黄洁锋
;
李生佩
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李生佩
.
中国专利
:CN212133867U
,2020-12-11
[2]
一种可优化重复性的双光束测光装置及优化方法
[P].
黄洁锋
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机构:
深圳市彩达威科技有限公司
深圳市彩达威科技有限公司
黄洁锋
;
彭磊
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机构:
深圳市彩达威科技有限公司
深圳市彩达威科技有限公司
彭磊
;
李生佩
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机构:
深圳市彩达威科技有限公司
深圳市彩达威科技有限公司
李生佩
.
中国专利
:CN111504462B
,2024-03-22
[3]
一种可优化重复性的双光束测光装置及优化方法
[P].
黄洁锋
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黄洁锋
;
彭磊
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彭磊
;
李生佩
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李生佩
.
中国专利
:CN111504462A
,2020-08-07
[4]
一种优化重复性的双光束测光装置及优化方法
[P].
黄洁锋
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机构:
苏州威福光电科技有限公司
苏州威福光电科技有限公司
黄洁锋
;
彭磊
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机构:
苏州威福光电科技有限公司
苏州威福光电科技有限公司
彭磊
;
李生佩
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机构:
苏州威福光电科技有限公司
苏州威福光电科技有限公司
李生佩
.
中国专利
:CN111504461B
,2024-06-25
[5]
一种优化重复性的双光束测光装置及优化方法
[P].
黄洁锋
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黄洁锋
;
彭磊
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彭磊
;
李生佩
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李生佩
.
中国专利
:CN111504461A
,2020-08-07
[6]
一种时分复用双光束测光装置
[P].
李生佩
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李生佩
;
黄洁锋
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黄洁锋
;
彭磊
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彭磊
.
中国专利
:CN211927088U
,2020-11-13
[7]
一种时分复用双光束测光装置
[P].
黄洁锋
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黄洁锋
;
李生佩
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李生佩
;
彭磊
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彭磊
.
中国专利
:CN111504464A
,2020-08-07
[8]
一种时分复用双光束测光装置
[P].
黄洁锋
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机构:
苏州威福光电科技有限公司
苏州威福光电科技有限公司
黄洁锋
;
李生佩
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机构:
苏州威福光电科技有限公司
苏州威福光电科技有限公司
李生佩
;
彭磊
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机构:
苏州威福光电科技有限公司
苏州威福光电科技有限公司
彭磊
.
中国专利
:CN111504464B
,2024-12-03
[9]
一种时分复用的双光束测光装置
[P].
李生佩
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李生佩
;
黄洁锋
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黄洁锋
;
彭磊
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彭磊
.
中国专利
:CN211927089U
,2020-11-13
[10]
一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪和优化方法
[P].
袁琨
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袁琨
;
吴逸萍
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吴逸萍
.
中国专利
:CN105157842A
,2015-12-16
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