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微波反射率测量组件及微波反射率测量系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201822026105.0
申请日
:
2018-12-04
公开(公告)号
:
CN209342634U
公开(公告)日
:
2019-09-03
发明(设计)人
:
余争鸣
潘金杰
甘丹
毛晶晶
申请人
:
申请人地址
:
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区华光大道5-2号
IPC主分类号
:
G01N2200
IPC分类号
:
代理机构
:
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人
:
孙海杰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-09-03
授权
授权
共 50 条
[1]
反射率测量系统
[P].
林志泉
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林志泉
.
中国专利
:CN1746662A
,2006-03-15
[2]
反射率测量装置
[P].
张立功
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张立功
;
李颜涛
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李颜涛
;
骆永石
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骆永石
.
中国专利
:CN112986190A
,2021-06-18
[3]
反射率测量装置
[P].
林昆蔚
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林昆蔚
;
江易轩
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江易轩
;
郑龙宇
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郑龙宇
;
张裕修
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张裕修
.
中国专利
:CN101493408A
,2009-07-29
[4]
玻璃反射率测量装置
[P].
陈娟
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陈娟
.
中国专利
:CN204028002U
,2014-12-17
[5]
硅片反射率测量装置
[P].
陈全胜
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陈全胜
;
唐旱波
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唐旱波
;
刘尧平
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刘尧平
;
王燕
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王燕
;
杜小龙
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杜小龙
.
中国专利
:CN211179528U
,2020-08-04
[6]
一种透过率反射率测量装置
[P].
丁海波
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丁海波
;
章湖
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章湖
;
杨绍光
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杨绍光
.
中国专利
:CN208187979U
,2018-12-04
[7]
反射率测量仪
[P].
袁琨
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机构:
彩谱科技(浙江)有限公司
彩谱科技(浙江)有限公司
袁琨
.
中国专利
:CN308679055S
,2024-06-11
[8]
双向反射率测量支架
[P].
陆寅
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陆寅
;
侯睿媛
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侯睿媛
;
张帅楠
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张帅楠
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梁峥
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梁峥
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王斋文
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王斋文
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刘仁明
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刘仁明
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陈贵宾
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陈贵宾
;
徐寅寅
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徐寅寅
.
中国专利
:CN209167119U
,2019-07-26
[9]
反射率测量系统与方法
[P].
刘晏宏
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刘晏宏
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杨明耀
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杨明耀
;
陈哲夫
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陈哲夫
.
中国专利
:CN110931377A
,2020-03-27
[10]
反射率分布测量系统及方法
[P].
马骅
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马骅
;
张霖
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张霖
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杨一
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杨一
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任寰
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任寰
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石振东
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石振东
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原泉
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原泉
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马玉荣
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马玉荣
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陈波
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陈波
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杨晓瑜
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杨晓瑜
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柴立群
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柴立群
.
中国专利
:CN106970047A
,2017-07-21
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