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离子阱质谱分析仪、质谱分析方法以及控制程序

被引：0
申请号：
CN202080066294.1
申请日：
2020-06-04
公开(公告)号：
CN114430857A
公开(公告)日：
2022-05-03
发明(设计)人：
岩本慎一 关谷祯规
申请人：
申请人地址：
日本国京都府
IPC主分类号：
H01J4942
IPC分类号：
H01J4902
代理机构：
上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291
代理人：
杨楷;毛立群
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-05-03 公开 公开
2022-05-20 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 49/42 申请日:20200604
共 50 条
[1]
离子阱质谱分析仪、质谱分析方法以及存储控制程序的计算机可读取介质 [P]. 
岩本慎一 ;
关谷祯规 .
日本专利 :CN114430857B ,2025-02-25
[2]
质谱分析装置、质谱分析方法以及质谱分析用程序 [P]. 
小栗将照 .
中国专利 :CN108027346A ,2018-05-11
[3]
质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序 [P]. 
内田和彦 ;
佐藤优美 ;
西口纯也 ;
山崎信介 .
中国专利 :CN1965232A ,2007-05-16
[4]
质谱分析装置以及质谱分析方法 [P]. 
北野理基 ;
河村和广 .
中国专利 :CN111201586B ,2020-05-26
[5]
离子阱质谱分析装置及使用该装置的质谱分析方法 [P]. 
关谷祯规 ;
高桥秀典 .
中国专利 :CN108474762A ,2018-08-31
[6]
质谱分析装置及质谱分析方法 [P]. 
朝野夏世 .
中国专利 :CN105829880B ,2016-08-03
[7]
用于质谱分析的基底,质谱分析法和质谱分析仪 [P]. 
吉村公博 ;
宫崎和也 ;
山田和弘 .
中国专利 :CN101329301B ,2008-12-24
[8]
质谱分析仪 [P]. 
刘立鹏 ;
梁炎 ;
郑毅 ;
马乔 ;
邓嘉辉 .
中国专利 :CN202217640U ,2012-05-09
[9]
质谱分析仪 [P]. 
张应海 ;
张应山 .
中国专利 :CN309574274S ,2025-10-31
[10]
离子阱质谱分析装置 [P]. 
鲁信琼 ;
李亚庆 ;
李子威 ;
陈深树 ;
焦台风 ;
程良红 .
中国专利 :CN217954335U ,2022-12-02
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