平面度测量仪器

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921195200.1
申请日
2019-07-27
公开(公告)号
CN210268504U
公开(公告)日
2020-04-07
发明(设计)人
庞宇 余角
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道上木古社区平新北路29号达尔讯工业园1号厂房一楼东座
IPC主分类号
G01B528
IPC分类号
代理机构
深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙) 44394
代理人
刘飞燕
法律状态
授权
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
平面度测量仪器 [P]. 
屠竹洲 ;
曹后荣 .
中国专利 :CN86200107U ,1986-10-29
[2]
平面度测量仪 [P]. 
彭雄良 .
中国专利 :CN223122191U ,2025-07-18
[3]
平面度测量仪 [P]. 
吕雷 ;
张帅帅 ;
王欢 .
中国专利 :CN207528165U ,2018-06-22
[4]
平面度测量仪 [P]. 
谭义银 ;
刘平 .
中国专利 :CN203479248U ,2014-03-12
[5]
平面度测量仪 [P]. 
徐俊 ;
侍相龙 ;
黄新林 .
中国专利 :CN210773997U ,2020-06-16
[6]
多激光平面度测量仪器 [P]. 
洪金龙 ;
仇增华 .
中国专利 :CN103983218A ,2014-08-13
[7]
多激光平面度测量仪器 [P]. 
洪金龙 ;
仇增华 .
中国专利 :CN204115679U ,2015-01-21
[8]
平面度激光测量仪 [P]. 
李庆孟 .
中国专利 :CN203657761U ,2014-06-18
[9]
平面度测量仪 [P]. 
谭义银 ;
刘平 .
中国专利 :CN103424060A ,2013-12-04
[10]
平面度测量仪 [P]. 
黄奇 .
中国专利 :CN306367155S ,2021-03-09