一种逆反射标志测量仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620340310.2

申请日：

2016-04-21

公开(公告)号：

CN205620301U

公开(公告)日：

2016-10-05

发明(设计)人：

杨宗文

申请人：

申请人地址：

102600 北京市大兴区黄村镇刘一村委会西500米

IPC主分类号：

G01N2147

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-10-05	授权	授权
2019-01-22	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20160421 授权公告日:20161005 放弃生效日:20190122

共 50 条

[1]

逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 .

中国专利 :CN205620299U ,2016-10-05

[2]

一种逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 .

中国专利 :CN105758823A ,2016-07-13

[3]

逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 .

中国专利 :CN206470178U ,2017-09-05

[4]

一种逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 ;

田晓辰 ;

吴会杰 ;

高建涛 .

中国专利 :CN205352927U ,2016-06-29

[5]

逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 .

中国专利 :CN108333118A ,2018-07-27

[6]

逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 .

中国专利 :CN304269850S ,2017-09-05

[7]

逆反射标志测量仪 [P].

马帅 .

中国专利 :CN306389912S ,2021-03-19

[8]

一种逆反射标志测量仪 [P].

葛巍伟 .

中国专利 :CN210090292U ,2020-02-18

[9]

方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪 [P].

杨宗文 .

中国专利 :CN205620298U ,2016-10-05

[10]

一种方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪 [P].

黎明 ;

黄永成 ;

沈卫东 ;

万正华 ;

朱文彬 ;

匡怡 ;

周佳 ;

熊伟 ;

钟伟 ;

凡思磊 ;

张孟珂 ;

雷孟 ;

郑桂民 .

中国专利 :CN212872186U ,2021-04-02

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