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自校准光学浊度测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080048241.7
申请日
:
2020-06-26
公开(公告)号
:
CN114174808A
公开(公告)日
:
2022-03-11
发明(设计)人
:
本杰明·卡尔
安德鲁·詹姆斯·鲍恩
申请人
:
申请人地址
:
瑞士巴登
IPC主分类号
:
G01N2149
IPC分类号
:
G01N2131
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
李辉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-11
公开
公开
2022-03-29
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/49 申请日:20200626
共 50 条
[1]
校准浊度测量传感器的方法
[P].
埃丹·安杰利奇
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埃丹·安杰利奇
;
卡尔斯滕·戈茨
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卡尔斯滕·戈茨
;
安德烈亚斯·菲德特
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安德烈亚斯·菲德特
.
中国专利
:CN103575706A
,2014-02-12
[2]
浊度传感器及浊度测量装置
[P].
常建华
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常建华
;
王志丹
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王志丹
;
郭跃
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郭跃
;
朱成刚
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朱成刚
;
桂诗信
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0
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桂诗信
.
中国专利
:CN204188525U
,2015-03-04
[3]
在线自校准的浊度仪系统
[P].
顾文华
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顾文华
;
左凌
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左凌
.
中国专利
:CN203299119U
,2013-11-20
[4]
用于浊度测量的方法和装置
[P].
鲁迪格尔·弗兰克
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鲁迪格尔·弗兰克
;
埃丹·安杰利奇
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埃丹·安杰利奇
.
中国专利
:CN101999072A
,2011-03-30
[5]
浊度传感器及浊度测量装置
[P].
常建华
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常建华
;
王志丹
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王志丹
;
郭跃
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郭跃
;
朱成刚
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朱成刚
;
桂诗信
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桂诗信
.
中国专利
:CN104374743B
,2015-02-25
[6]
浊度测量装置
[P].
陈翔
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陈翔
;
陈鹏
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陈鹏
;
刘高军
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刘高军
;
潘凌
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潘凌
;
武治国
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武治国
;
张春萍
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张春萍
.
中国专利
:CN304144496S
,2017-05-24
[7]
浊度测量装置
[P].
包伟方
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包伟方
.
中国专利
:CN109557032A
,2019-04-02
[8]
设置有自校准装置的电场测量设备及自校准方法
[P].
干喆渊
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干喆渊
;
张建功
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张建功
;
刘健犇
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刘健犇
;
王延召
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王延召
;
张业茂
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张业茂
;
路遥
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路遥
;
刘兴发
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刘兴发
;
谢辉春
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谢辉春
;
赵军
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赵军
;
周兵
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周兵
;
倪园
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倪园
;
李妮
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李妮
;
胡静竹
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0
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胡静竹
.
中国专利
:CN112285443A
,2021-01-29
[9]
浊度测量装置
[P].
埃丹·安杰利奇
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0
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埃丹·安杰利奇
;
鲁迪格尔·弗兰克
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0
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鲁迪格尔·弗兰克
.
中国专利
:CN102362170A
,2012-02-22
[10]
在线自校准的浊度仪系统及浊度检测方法
[P].
顾文华
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顾文华
;
左凌
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左凌
.
中国专利
:CN103323427A
,2013-09-25
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