一种光学膜片检测器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620947791.3

申请日：

2016-08-25

公开(公告)号：

CN205981621U

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

赖志华戴春平刘长涛谢娇丽凌巍巍骆传潘海

申请人：

申请人地址：

517000 广东省河源市高新区科六路南边兴业大道东边C栋第二层

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

G01M1102 G02F113

代理机构：

广州凯东知识产权代理有限公司 44259

代理人：

姚迎新

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-22	授权	授权
2018-08-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20160825 授权公告日:20170222 终止日期:20170825

共 50 条

[1]

光学膜片检测器 [P].

刘华东 .

中国专利 :CN204188907U ,2015-03-04

[2]

一种膜片缺陷检测器 [P].

李宁 ;

何福海 ;

杨楠 ;

魏齐 ;

程智军 .

中国专利 :CN204789359U ,2015-11-18

[3]

光学单元检测器 [P].

宋瑶 ;

罗阁 ;

程子健 ;

张振方 ;

王志刚 ;

王岱杰 .

中国专利 :CN212321536U ,2021-01-08

[4]

LED光学检测器 [P].

张卫东 ;

李绍楷 .

中国专利 :CN201149540Y ,2008-11-12

[5]

一种光学镜片检测器 [P].

张华民 ;

言利宏 ;

马黎钧 .

中国专利 :CN210401256U ,2020-04-24

[6]

一种光学设备检测器 [P].

郭亚敏 .

中国专利 :CN217156251U ,2022-08-09

[7]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

H·亨根 .

中国专利 :CN107003785B ,2017-08-01

[8]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

C·朗根施密德 .

中国专利 :CN107003120A ,2017-08-01

[9]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

H·沃内博格 .

中国专利 :CN105637320A ,2016-06-01

[10]

光学检测器 [P].

T·阿尔腾贝克 ;

H·贝克特尔 ;

R·赫 ;

F·迪特曼 ;

S·穆勒 ;

T·胡普福尔 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·古斯特 ;

B·福伊尔施泰因 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

中国专利 :CN110770555A ,2020-02-07

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