X射线探测器和X射线成像装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780082055.3

申请日：

2017-12-24

公开(公告)号：

CN110168406A

公开(公告)日：

2019-08-23

发明(设计)人：

H·施泰因豪泽 O·J·维默斯 P·L·阿尔温 M·西蒙

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01T120

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

李光颖

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-23	公开	公开
2020-02-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/20 申请日:20171224

共 50 条

[1]

X射线探测器和具有X射线探测器的X射线设备 [P].

M·霍瑟曼 ;

T·厄格勒 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN112198543A ,2021-01-08

[2]

X射线设备和X射线探测器 [P].

朴惠淑 ;

韩宇燮 ;

金相旭 .

中国专利 :CN106999126B ,2017-08-01

[3]

用于生产x射线探测器的组装方法、x射线探测器和x射线设备 [P].

T·厄格勒 ;

M·拉巴延德英扎 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN110058291A ,2019-07-26

[4]

X射线探测器 [P].

C·赫尔曼 .

中国专利 :CN103998952A ,2014-08-20

[5]

X射线探测器、成像装置和用于操作X射线探测器的方法 [P].

T·厄格勒 ;

B·欣茨 ;

S·维尔特 .

中国专利 :CN111220632A ,2020-06-02

[6]

X射线探测器、成像装置和校准方法 [P].

E·勒斯尔 ;

H·德尔 .

中国专利 :CN106030345A ,2016-10-12

[7]

用于X射线成像的探测器 [P].

P·G·范德哈尔 ;

W·吕腾 ;

H·施泰因豪泽 ;

H·斯特格胡伊斯 ;

O·J·维默斯 .

中国专利 :CN111684311A ,2020-09-18

[8]

X射线探测方法、和X射线探测器 [P].

邢宇翔 ;

郭潇月 ;

邓智 ;

沈乐 ;

张丽 ;

陈志强 ;

李亮 .

中国专利 :CN107345923A ,2017-11-14

[9]

冷却装置、X射线探测器装置和X射线成像设备 [P].

T·厄格勒 ;

B·欣茨 ;

H·卢茨 ;

C·波罕 ;

K·斯塔德坦纳 ;

S·维尔特 ;

S·沃尔费尔 .

中国专利 :CN216670285U ,2022-06-03

[10]

运行直接转换式X射线探测器的方法、X射线探测器和成像的X射线装置 [P].

阿尔方斯·艾斯曼 ;

乌尔里希·维斯曼 ;

安德烈亚斯·乌尔班 .

中国专利 :CN115581471A ,2023-01-10

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