用于逐工序测量零件的定位支架和测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721468818.1

申请日：

2017-11-06

公开(公告)号：

CN207648367U

公开(公告)日：

2018-07-24

发明(设计)人：

李海平李庆玲陈新生张德良陈丽

申请人：

申请人地址：

261000 山东省潍坊市潍坊高新区樱前街高六路路口

IPC主分类号：

F16M1104

IPC分类号：

F16M1122

代理机构：

北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447

代理人：

陈庆超;桑传标

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-24	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测量零件的轮廓的系统和方法 [P].

P·贾科特 ;

S·拉波特 ;

F·派莱特 .

中国专利 :CN113260482A ,2021-08-13

[2]

用于检测零件装配位置的测量支架 [P].

易明辉 .

中国专利 :CN206740022U ,2017-12-12

[3]

用于测量零件的外径的测量工装 [P].

王俊 ;

邓凌曲 ;

刘志强 ;

张闯 .

中国专利 :CN109099814B ,2024-11-08

[4]

用于测量零件的外径的测量工装 [P].

王俊 ;

邓凌曲 ;

刘志强 ;

张闯 .

中国专利 :CN109099814A ,2018-12-28

[5]

用于测量零件的外径的测量工装 [P].

王俊 ;

邓凌曲 ;

刘志强 ;

张闯 .

中国专利 :CN209310693U ,2019-08-27

[6]

用于轴类零件的测量系统 [P].

蔡明元 ;

刘树林 .

中国专利 :CN111089553B ,2020-05-01

[7]

用于轴类零件的测量系统 [P].

蔡明元 ;

刘树林 ;

熊祖明 .

中国专利 :CN111122156B ,2020-05-08

[8]

一种用于测量零件平面度的测量系统和测量方法 [P].

虞佳佳 ;

张耀 ;

黄忠慧 ;

黄文广 .

中国专利 :CN110108238A ,2019-08-09

[9]

测量带有内孔的零件的测量系统 [P].

王俊 ;

邓凌曲 ;

刘志强 ;

张闯 .

中国专利 :CN209310665U ,2019-08-27

[10]

用于光学零件测量系统的校准设备 [P].

约翰·D·斯伯丁 .

中国专利 :CN101836092A ,2010-09-15

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