一种老化测试仪控制电路

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821945150.X
申请日
2018-11-24
公开(公告)号
CN209231489U
公开(公告)日
2019-08-09
发明(设计)人
钟辉 殷世其
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市光明新区光明街道白花社区第一工业区B10号大鸿科技园C栋五楼北
IPC主分类号
G01R31392
IPC分类号
代理机构
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11394
代理人
陈益思
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种综合测试仪控制电路 [P]. 
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殷世其 .
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