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光学测量装置及光学测量方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201980057874.1
申请日：
2019-12-26
公开(公告)号：
CN112639392B
公开(公告)日：
2021-04-09
发明(设计)人：
梶井阳介
近藤智则
申请人：
申请人地址：
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮递区号:600-8530)
IPC主分类号：
G01B1100
IPC分类号：
代理机构：
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人：
杨贝贝;臧建明
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-04-09 | 公开 | 公开 |
| 2021-04-27 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20191226 |
| 2022-09-20 | 授权 | 授权 |