基于FPGA继电器断开时间的测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510960129.1

申请日：

2015-12-21

公开(公告)号：

CN105467310A

公开(公告)日：

2016-04-06

发明(设计)人：

常志英孙立莹吴盼良李世荣

申请人：

申请人地址：

056002 河北省邯郸市联纺东路32号

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

代理机构：

北京国帆知识产权代理事务所(普通合伙) 11334

代理人：

李增朝

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101658478742 IPC(主分类):G01R 31/327 专利申请号:2015109601291 申请日:20151221
2016-04-06	公开	公开
2019-06-28	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/327 申请公布日:20160406

共 50 条

[1]

继电器组合测试装置及测试方法 [P].

牛财成 ;

杜志峰 ;

张喜龙 ;

刘宏伟 ;

韩文浩 ;

张永 ;

严晓科 ;

刘家厚 ;

吕重超 ;

刘玉龙 .

中国专利 :CN114755572A ,2022-07-15

[2]

时间继电器测试装置 [P].

胡以青 .

中国专利 :CN210323283U ,2020-04-14

[3]

便携式继电器测试装置及测试方法 [P].

张铁英 ;

纪德寿 ;

廖冠霖 ;

黄晓荣 ;

施聪 .

中国专利 :CN109696625A ,2019-04-30

[4]

继电器测试装置 [P].

陈润炽 ;

侯品杨 ;

陈佑贵 ;

丰茂圣 ;

王梁 ;

邓卓森 ;

郑少彬 ;

梁春风 .

中国专利 :CN206321760U ,2017-07-11

[5]

时间继电器时间参数测试装置 [P].

张晓冰 .

中国专利 :CN204575815U ,2015-08-19

[6]

继电器的测试装置 [P].

沈建林 ;

王永文 ;

徐光安 .

中国专利 :CN208672769U ,2019-03-29

[7]

基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法 [P].

张金凤 ;

孟庆伟 ;

唐金慧 ;

马成英 ;

杨超 ;

刘玏 .

中国专利 :CN112241388B ,2024-11-12

[8]

基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法 [P].

张金凤 ;

孟庆伟 ;

唐金慧 ;

马成英 ;

杨超 ;

刘玏 .

中国专利 :CN112241388A ,2021-01-19

[9]

安全型继电器的测试装置及测试方法 [P].

张铁英 ;

纪德寿 ;

张郁 ;

居理 .

中国专利 :CN106371009A ,2017-02-01

[10]

继电器装置及继电器寿命测试装置 [P].

牟振宁 .

中国专利 :CN102540071B ,2012-07-04

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