深度数据的确定方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110474065.X

申请日：

2021-04-29

公开(公告)号：

CN113194173A

公开(公告)日：

2021-07-30

发明(设计)人：

朱德泰

申请人：

申请人地址：

311121 浙江省杭州市余杭区仓前街道龙泉路20号2幢305室

IPC主分类号：

H04M102

IPC分类号：

H04M172454 G01S1112

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;曹娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04M 1/02 申请日:20210429
2021-07-30	公开	公开

共 50 条

[1]

电子设备状态的确定方法、装置及电子设备 [P].

段俊杰 ;

杨雪洁 .

中国专利 :CN111596854A ,2020-08-28

[2]

词语的确定方法和电子设备 [P].

方忻建 .

中国专利 :CN114995663A ,2022-09-02

[3]

词语的确定方法和电子设备 [P].

方忻建 .

中国专利 :CN114995663B ,2025-08-19

[4]

缺陷深度的确定方法、装置和电子设备 [P].

伍雨辰 .

中国专利 :CN119904495A ,2025-04-29

[5]

补光强度数据的确定方法和装置、电子设备和存储介质 [P].

王飞 ;

杨兴光 ;

崔亚军 ;

路建刚 ;

柳艳青 ;

达晓恒 .

中国专利 :CN115396601A ,2022-11-25

[6]

补光强度数据的确定方法和装置、电子设备和存储介质 [P].

邵磊 ;

王飞 ;

杨兴光 ;

崔亚军 ;

路建刚 ;

柳艳青 ;

达晓恒 .

中国专利 :CN115396601B ,2025-01-21

[7]

图像深度信息的确定方法、装置、电子设备和介质 [P].

毋戈 ;

周宇 .

中国专利 :CN114463409A ,2022-05-10

[8]

空座率的确定方法、装置和电子设备 [P].

郑志超 ;

郑丹丹 .

中国专利 :CN113792674B ,2024-03-26

[9]

空座率的确定方法、装置和电子设备 [P].

郑志超 ;

郑丹丹 .

中国专利 :CN113792674A ,2021-12-14

[10]

目标硬盘的确定方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

马存超 .

中国专利 :CN120803355A ,2025-10-17

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