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一种高精度可收集光学检测设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110990560.6
申请日
:
2021-08-26
公开(公告)号
:
CN113866175A
公开(公告)日
:
2021-12-31
发明(设计)人
:
康正甫
申请人
:
申请人地址
:
300000 天津市东丽区滨海重机工业园重工路3号赛瑞机器设备
IPC主分类号
:
G01N21892
IPC分类号
:
B07C5342
B07C536
代理机构
:
合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142
代理人
:
肖健
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-31
公开
公开
2022-01-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/892 申请日:20210826
共 50 条
[1]
一种高精度光学检测设备
[P].
康正甫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
康正甫
.
中国专利
:CN113702284A
,2021-11-26
[2]
一种光学检测设备
[P].
张欣婷
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长春电子科技学院
长春电子科技学院
张欣婷
;
亢磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长春电子科技学院
长春电子科技学院
亢磊
;
吴倩倩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长春电子科技学院
长春电子科技学院
吴倩倩
;
王凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长春电子科技学院
长春电子科技学院
王凯
.
中国专利
:CN117805110A
,2024-04-02
[3]
一种高精度光学检测系统及光学检测设备
[P].
张瑞华
论文数:
0
引用数:
0
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0
张瑞华
;
张俊泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
张俊泽
.
中国专利
:CN114152573A
,2022-03-08
[4]
一种新型光学检测设备
[P].
高承田
论文数:
0
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0
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0
高承田
;
刘俊生
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘俊生
;
寻建晖
论文数:
0
引用数:
0
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0
寻建晖
;
辛东金
论文数:
0
引用数:
0
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0
辛东金
;
王磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
王磊
;
王敖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王敖
.
中国专利
:CN109351649A
,2019-02-19
[5]
一种高精度光学检测装置
[P].
蒋灵搏
论文数:
0
引用数:
0
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0
蒋灵搏
.
中国专利
:CN115356287A
,2022-11-18
[6]
一种光学镜片检测用高精度干涉仪
[P].
汪德峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南京嘉博光学仪器有限公司
南京嘉博光学仪器有限公司
汪德峰
;
黄欣晟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南京嘉博光学仪器有限公司
南京嘉博光学仪器有限公司
黄欣晟
;
王根
论文数:
0
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0
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0
机构:
南京嘉博光学仪器有限公司
南京嘉博光学仪器有限公司
王根
;
沈宏岩
论文数:
0
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0
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0
机构:
南京嘉博光学仪器有限公司
南京嘉博光学仪器有限公司
沈宏岩
;
郑顺亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
南京嘉博光学仪器有限公司
南京嘉博光学仪器有限公司
郑顺亮
.
中国专利
:CN120685302A
,2025-09-23
[7]
一种自动光学检测设备
[P].
姜巍
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
姜巍
;
张福平
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
张福平
;
黎国忠
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
黎国忠
;
徐红星
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
徐红星
.
中国专利
:CN118624622A
,2024-09-10
[8]
一种高精度玻璃晶圆自动光学检测设备
[P].
金国善
论文数:
0
引用数:
0
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0
金国善
;
焦涛涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
焦涛涛
.
中国专利
:CN217278769U
,2022-08-23
[9]
一种光学摄像头的光学检测设备
[P].
程林梦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市虹霞光学科技有限公司
深圳市虹霞光学科技有限公司
程林梦
;
李青青
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市虹霞光学科技有限公司
深圳市虹霞光学科技有限公司
李青青
.
中国专利
:CN222618184U
,2025-03-14
[10]
一种高精度集成电路芯片缺陷光学检测设备及方法
[P].
李莉
论文数:
0
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0
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0
机构:
安徽中科天辰科技有限公司
安徽中科天辰科技有限公司
李莉
.
中国专利
:CN120275413A
,2025-07-08
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