用于检测特殊的红外电磁辐射的部件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580043815.7

申请日：

2005-12-12

公开(公告)号：

CN101084575A

公开(公告)日：

2007-12-05

发明(设计)人：

S·蒂尼斯

申请人：

申请人地址：

法国沃雷沃鲁瓦兹

IPC主分类号：

H01L2148

IPC分类号：

G01J506

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

曹若;黄力行

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/48 申请日:20051212 授权公告日:20110622 终止日期:20191212
2008-01-23	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-06-22	授权	授权
2007-12-05	公开	公开

共 50 条

[1]

用于探测和转换红外电磁辐射的方法 [P].

伯恩哈德·西格蒙德 ;

科恩·范德瓦尔 ;

安德烈亚斯·米朔克 ;

约翰内斯·本杜恩 ;

多纳托·斯波尔托雷 ;

克里斯蒂安·克尔纳 ;

卡尔·莱奥 .

中国专利 :CN107924934A ,2018-04-17

[2]

用于检测电磁辐射的系统 [P].

A·达维内 .

中国专利 :CN110062878A ,2019-07-26

[3]

用于检测电磁辐射的组件以及生产用于检测电磁辐射的组件的方法 [P].

托马斯·弗勒利希 ;

迈克尔·莱特纳 ;

托马斯·特罗克勒 ;

约瑟夫·佩特尔 ;

多米尼克·霍林格 ;

托马斯·穆勒 ;

安德里亚斯·菲齐 ;

延斯·霍弗里希特 .

:CN111033742B ,2024-07-16

[4]

用于检测电磁辐射的组件以及生产用于检测电磁辐射的组件的方法 [P].

托马斯·弗勒利希 ;

迈克尔·莱特纳 ;

托马斯·特罗克勒 ;

约瑟夫·佩特尔 ;

多米尼克·霍林格 ;

托马斯·穆勒 ;

安德里亚斯·菲齐 ;

延斯·霍弗里希特 .

:CN118841455A ,2024-10-25

[5]

用于检测电磁辐射的组件以及生产用于检测电磁辐射的组件的方法 [P].

托马斯·弗勒利希 ;

迈克尔·莱特纳 ;

托马斯·特罗克勒 ;

约瑟夫·佩特尔 ;

多米尼克·霍林格 ;

托马斯·穆勒 ;

安德里亚斯·菲齐 ;

延斯·霍弗里希特 .

中国专利 :CN111033742A ,2020-04-17

[6]

检测电磁辐射、尤其是红外辐射的设备 [P].

伯努瓦·杜邦 ;

米歇尔·维兰 .

中国专利 :CN101339073A ,2009-01-07

[7]

用于产生电磁辐射的辐射源和用于产生电磁辐射的方法 [P].

M·M·J·W·范赫彭 .

中国专利 :CN101657760A ,2010-02-24

[8]

用于检测电磁辐射的方法和系统 [P].

菲利普·亚瑟·让·吉斯兰·舍瓦利耶 .

:CN113348346B ,2024-09-13

[9]

电磁辐射检测器 [P].

叶袁生 .

中国专利 :CN200979576Y ,2007-11-21

[10]

用于电磁辐射检测的感测系统 [P].

B.丹尼尔 ;

J.普拉萨纳库马尔 ;

A.范德阿沃德 ;

E.J.洛斯 .

中国专利 :CN113748330A ,2021-12-03

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