一种电子元器件检测用测试台

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专利类型
实用新型
申请号
CN201921286991.9
申请日
2019-08-09
公开(公告)号
CN210923763U
公开(公告)日
2020-07-03
发明(设计)人
陈伟 王斌 虞麟
申请人
申请人地址
214000 江苏省无锡市滨湖区滴翠路100号9号楼5楼
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种电子元器件用的测试台 [P]. 
姚红亮 ;
陈天生 .
中国专利 :CN212083266U ,2020-12-04
[2]
一种电子元器件用测试台 [P]. 
王祺 .
中国专利 :CN212872685U ,2021-04-02
[3]
一种电子元器件用测试台 [P]. 
韩华 .
中国专利 :CN211318497U ,2020-08-21
[4]
一种电子元器件用测试台 [P]. 
冯明 .
中国专利 :CN208459512U ,2019-02-01
[5]
一种电力电子元器件性能测试台 [P]. 
高方方 ;
张成明 .
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[6]
一种电子元器件性能测试台 [P]. 
徐玉佩 ;
王鑫 ;
卢立康 ;
王双喜 .
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[7]
一种电子元器件性能测试台 [P]. 
仝颖 .
中国专利 :CN209979513U ,2020-01-21
[8]
一种电子元器件测试台 [P]. 
吴松 .
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[9]
一种半导体电子元器件测试台 [P]. 
王俊 .
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[10]
一种元器件性能测试台 [P]. 
赖沛浈 ;
邓海荣 ;
吴昭辉 .
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