碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010766060.X
申请日
2020-08-03
公开(公告)号
CN112466752A
公开(公告)日
2021-03-09
发明(设计)人
大瀬直之 小岛贵任
申请人
申请人地址
日本神奈川县川崎市
IPC主分类号
H01L21329
IPC分类号
H01L2128 H01L29872 H01L29417 H01L2945
代理机构
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286
代理人
包跃华;金玉兰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
小岛贵仁 ;
大瀬直之 .
日本专利 :CN113161232B ,2025-10-28
[2]
碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
小岛贵仁 ;
大瀬直之 .
中国专利 :CN113161232A ,2021-07-23
[3]
碳化硅半导体装置以及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
大瀬直之 ;
小岛贵仁 .
日本专利 :CN113228236B ,2024-08-09
[4]
碳化硅半导体装置以及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
大瀬直之 ;
小岛贵仁 .
中国专利 :CN113228236A ,2021-08-06
[5]
碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
熊田恵志郎 ;
桥爪悠一 ;
星保幸 ;
铃木启久 .
中国专利 :CN110383489A ,2019-10-25
[6]
碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
藤本卓巳 .
中国专利 :CN109841616A ,2019-06-04
[7]
碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
星保幸 ;
桥爪悠一 ;
熊田惠志郎 .
中国专利 :CN109390384A ,2019-02-26
[8]
碳化硅半导体装置的制造方法及碳化硅半导体装置 [P]. 
中西洋介 ;
冈部博明 ;
吉田基 ;
须贺原和之 ;
富永贵亮 .
中国专利 :CN106165066A ,2016-11-23
[9]
碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
俵武志 ;
水岛智教 ;
松永慎一郎 ;
竹中研介 ;
武井学 ;
土田秀一 ;
村田晃一 ;
小山皓洋 ;
中山浩二 ;
染谷满 ;
米泽喜幸 ;
木内祐治 .
中国专利 :CN113892189A ,2022-01-04
[10]
碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
俵武志 ;
水岛智教 ;
松永慎一郎 ;
竹中研介 ;
武井学 ;
土田秀一 ;
村田晃一 ;
小山皓洋 ;
中山浩二 ;
染谷满 ;
米泽喜幸 ;
木内祐治 .
日本专利 :CN113892189B ,2025-04-18